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平成11年度事業開始
熊本県 「超精密半導体計測技術開発(別冊:新技術・新産業の創出に関する報告)」
 


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ListMarkIV 成果報告

ListMark2. 新技術・新産業の創出に関する報告

ListMark(1) 超精密高速ステージ開発

超精密高速ステージの開発
ステージ制御応用技術開発
3-18

小坂 光二, 岩渕 哲也, 馬場 哲朗, 奥寺 智, 宮田 昇, 渡辺 雅幸, 石井 守, 森山 司郎, 佐々木 俊一, 荒尾 淳, 井上 知行, 高木 宏司, 江頭 義也, 遠藤 泰史, 橋口 弘幸, 橋本 誠司, 大石 潔, 魚住 清彦, 古川 博之, 中田 明良, 久保田 弘, 大見 忠弘
[抄録] [PDF (3438K)


高出力圧電素子技術開発
19-24

宮田 昇, 松野 晋, 渡邉 雅幸, 萬矢 晃庸, 小坂 光二, 馬場 哲郎, 岩渕 哲也, 中田 明良, 久保田 弘
[抄録] [PDF (160K)


ステージ軽量化技術開発
25-29

森山 司朗, 佐々木 俊一, 廣瀬 正孝, 小坂 光二, 岩渕 哲也, 石井 守, 梅津 基宏, 東町 高雄, 久保田 弘, 大見 忠弘
[抄録] [PDF (200K)


ListMark(2) 計測技術開発

3次元形状計測手法の開発
31-36

山崎 裕一郎, 阿部 和夫, 木村 浩二, 鶴我 靖子, 野間 孝幸, 岡田 真一, 濱口 晶, 鈴木 等, 高地 伸夫, 小池 紘民
[抄録] [PDF (251K)


プローバ高周波計測技術開発
37-41

神立 信一, 金沢 守道, 石松 賢治, 鈴木 幸三朗, 長畑 博之, 松藤 秀史, 佐々木 守, 福迫 武
[抄録] [PDF (106K)


ListMark(3) デバイス形成技術開発

プラズマ異常放電監視法開発
43-50

八坂 三夫, 北村 智行, 田間 政義, 竹下 正吉, 児玉 昭和, 岡村 浩治, 上杉 文彦, 伊藤 奈津子, 板垣 洋輔, 萩原 宗明, 宮川 隆二, 浅野 種正
[抄録] [PDF (611K)


レジスト塗布工程におけるスキャン塗布・減圧乾燥技術の開発
51-58

吉岡 和敏, 竹下 和弘, 北野 高広, 河田 敦, 鏡 裕幸, 宮川 隆二, 森川 晃次
[抄録] [PDF (151K)


次世代実装対応めっき技術研究開発
59-63

久保田 弘, 土岐 荘太郎, 佐々木 淳, 古屋 明彦, 杉村 正彦, 脇坂 康尋, 内田 大輔, 萩原 宗明, 筑間 光靖, 徳田 博, 平野 勝, 浅 富士夫, 栗林 幸一郎, 野田 智子, 神戸 秀夫, 溝口 弘明, 村上 洋二, 佐々木 守, 福迫 武, 本武 幸一
[抄録] [PDF (57K)


液晶輝度ムラ検査装置開発
65-71

田口 智弘, 山川 昇, 大隈 義信, 上村 直, 大隈 恵治, 黒木 卓也, 小山 善文
[抄録] [PDF (107K)


膜厚ムラ検査装置開発
73-80

藤井 敏夫, 相川 創, 久保田 弘, 中田 明良, 羽山 隆史, 森川 晃次, 新庄 信博, 小山 善文, 井上 知行, 宮川 隆二, 北野 高広
[抄録] [PDF (173K)


微細加工・計測技術開発
81-91

中村 一光, 森本 達郎, 久保田 弘, 中田 明良, 赤道 孝之, 井口 恒夫, 占部 憲治, 小坂 光二, 小坂 哲也, 馬場 哲朗, 藤井 敏夫, 相川 創, 高山 由則, 鈴木 信二, 若杉 雄彦, 中村 博文
[抄録] [PDF (138K)



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