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平成11年度事業開始
熊本県　「超精密半導体計測技術開発（別冊：新技術・新産業の創出に関する報告）」  pp.65-71
液晶輝度ムラ検査装置開発
田口 智弘, 山川 昇, 大隈 義信, 上村 直, 大隈 恵治, 黒木 卓也, 小山 善文

(1) 日経BP社「NIKKEI MICRODEVICES」, 11月号, pp. 31−61(2003)
(2) 日経BP社「NIKKEI MICRODEVICES」, 5月号, pp. 101(2004)
(3) 森由美, 吉武良治, 森口喜代, 棚橋高成, 辻智, 田村徹, (社)精密工学会, 第293回講習会「官能検査の自動化」資料, pp. 21−26(2003)