 | | | 吉門 進三1), 杤尾 達紀2), 福岡 隆夫2), 森 康維1), 伊藤 嘉昭3), 新戸 浩幸3), 福島 整4) |
| 1) 同志社大学
2) コア研究室
3) 京都大学
4) (独)物質・材料研究機構 |
| Abstract 光散乱法およびレーザ回折・散乱法によるナノ粒径分布測定に適した解析ソフトウエアの開発指針を提示し、粒子径の小さな領域まで測定可能な粒度分布測定手法を確立する。また、動的光散乱法では、多角度同時測定解析手法を完成させる。一方、X線散乱法によるナノ粒子径分布測定では、新たな解析方法を提案する。
機能性微粒子を創成および応用する上で、微粒子の電気・磁気的性質、表面・内部構造および元素組成分布、表面の電子状態、粒子の形状等を調べることは、非常に重要である。このことを鑑みて以下のテーマを設定する。
1．微粒子表面のコーティング技術の開発、微粒子の電磁気的性質の計測、X 線分光法による微粒子の精密状態分析
2．微粒子から放射される X 線のスペクトルの精密計測法のソフト・ハードウエアの開発
3．小型 X 線源の開発、2 結晶蛍光 X 線分析装置の高機能化
4．メカニカルミリング法による粉茶の製造および分級
微粒子表面状態計測技術については、AFMを活用した微粒子表面状態の新しい計測技術の開発を目指す。 |
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