 | ナノ粒子の表面・界面分子配列構造の解明
高分子表面、薄膜のキャラクタリゼーション
(各種プローブを用いたナノ構造材料の評価技術の開発)
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| | 松井 純爾1)2), 漆原 良昌1)2), 李 雷1)2), 横山 和司1)2), 小寺 賢3), 西野 孝3) |
| 1) 放射光ナノテク研究所
2) コア研究室
3) 神戸大学 |
| Abstract 各種プローブ (電子線、レーザー、サーマルプローブ、X線) を用いて、ナノ粒子コンポジットに代表されるナノ構造材料の局所領域における構造・物性を評価する技術を開発する。本テーマでは、下記の2つの評価技術の開発を行った。
i) 電界放出型走査電子顕微鏡によるナノ粒子コンポジット材料の変形過程のin situ観察技術の開発
ii) 各種マイクロプローブによる局所構造評価 |
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