 | 低コヒーレンストモグラフィー法による深さ分解脳機脳計測(functionalOCT)
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| | ウママヘスワリ R.1), 門野 博史2), 高岡 秀幸3), 本間 良太1), 谷藤 学1) |
| 1) 理研脳センター脳統合機能研究チーム
2) 埼玉大·院
3) オリンパス光学 |
| | 波長1.3mmの低コヒーレントレーザ光により大脳皮質を照明し、光の干渉計測技術を用いることによって神経活動に伴なう反射光の変化を深さ方向に分解して計測した。その結果、(1)ネコ視覚野において特定の方位に選択的な反射光の変化が2-3層に相当する深さに見られること、(2)異なる深度からの反射光の変化を平均加算したものは、脳表面から計測した内因性信号と方位選択性において一致することを見出した。これらの結果は低コヒーレンスレーザー光による干渉技術(OCT)が大脳皮質の機能構造を深さ方向に分解して計測する新しい方法としても有効であることを示している。 |
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